掃描式電子顯微鏡 產品簡介 名稱：掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscope 規格：Hitachi / S-3400N/解析度 : 3.0 n 用途：材料表面瑕疵與夾雜物觀察分析 回上頁 ↑TOP